第2章 半导体二极管及其应用B 联系客服

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第2章 半导体二极管及其应用

1. N沟道增强型MOSFET的结构

N沟道增强型MOSFET结构的示意图如图2-17(a)所示,增强型MOSFET的符号如图2-17(b)所示。

2. N沟道增强型MOSFET的工作原理 (1) uGS对iD的控制作用

a. uGS?0时,没有N型导电沟道 b. uGS?UGS(th)时,出现N沟道。

可以通过uGS控制N型沟道的厚度,此时在uDS的作用下将产生漏极电流iD。显然uGS越大导电沟道越厚,沟道电阻值越小,通常将在uDS作用下开始导电时的uGS称为开启电压,用UGS(th)表示。也正是由于这种场效应管在uGS?UGS(th)时才形成导电沟道,才称之为增强型场效应管。 (2) uDS对iD的影响

当uGS?UGS(th)导电沟道形成,此时外加漏源电压uDS将产生漏极电流iD。

当uDS较小时,iD随uDS增大而迅速增大。当

UDDiD?0UGGiD?0sN?gdN?sN?g???????????????????PdN?uDS增加到uDS?uGS?UGS(th)时,靠近漏极端的

沟道厚度为零,出现预夹断。若uDS继续增大,使

P衬底 B(a)uDS?(uGS?UGS(th)),导电沟道的夹断点向源极

方向移动,夹断区域向源极方向延伸,沟道电阻增大,电流iD趋于饱和,基本不随uDS的变化而变化,仅取决于uGS。

3. N沟道增强型MOSFET的特性曲线

N沟道增强型MOSFET的特性曲线也分为输出特性和转移特性。输出特性同样分为可变电阻区、放大区(饱和区)、击穿区和截止区。转移特性同样是在uDS?常数的条件下,从输出特性曲线上用作图法求出。

增强型MOSFET的转移特性同样以uDS为参变量时,漏极电流iD随栅源电压uGS变化的关系曲线。漏极电流iD的近似表达式为 iD?IDO(UDD衬底 B(b)UGGiDUDDsN?gd迅速增大UGGiDsN?g?????????????????????????????PdN?夹断区饱和???????????????????????N??????????P衬底 B(c)N型导电沟道衬底 B(d)图2-18 N沟道增强型 MOSFET的基本工作原理示意图uGS?0 时,(a) 无导电沟道uGS?UGS(th) 时,(b) 出现沟道(c) uGS?UGS(th) ,uDS较小时,iD 迅速增大(d) uGS?UGS(th) ,uDS较大时出现夹断,iD 趋于饱和uGS?1)2 (uGS?UGS(th)) (2-15)

UGS(th)式中,IDO是uGS?2UGS(th)时的漏极电流iD。 2) N沟道耗尽型MOSFET

1. N沟道耗尽型MOSFET的结构

N沟道耗尽型MOSFET的结构示意图如图2-19(a)所示。耗尽型MOSFET的符号如图2-19(b)所示。N沟道耗尽型MOSFET的结构与增强型MOSFET结构相似,不同之处在于N沟道耗尽型MOSFET在制造过程中在栅源之间的SiO2中注入一些离子(图中2-19中用“+”表示),使漏源之间

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的导电沟道在uGS?0时导电沟道就已经存在了,这一沟道称为初始沟道。因此称为N沟道耗尽型MOSFET。由于uGS?0时就存在初始导电沟道,所以只要加上uDS就能形成漏极电流iD。 2. N沟道耗尽型MOSFET的特性曲线

N沟道耗尽型MOSFET的漏极电流可近似表示为

绝缘层SiO2sg????????????????????????????????????????????????????????????????d铝电极iD?IDSS(1?(2-16)

uGS2导电沟道 ) (UGS(off)?uGS?0) PN结耗尽层UGS(off)P 衬底半导体材料N?N?耗尽型 N 沟道 式中IDSS是uGS?0时的漏极电流。

表2-1 各种场效应管特性比较 结 构 结 型 场 效 应 管 N 沟 道 J F E T P 沟 道 J F E T M O S 场 N 沟 道 M O S 管 工作方式 耗 尽 型 耗 尽 型 符号 衬底 B耗尽型 P 沟道(a) N沟道耗尽型MOSFET 的结构示意图(b) 耗尽型 MOSFET的符号图2-19 耗尽型 MOSFET 的结构及其符号转移特性 iDmA输出特性 guDS?uGS?UGS(off)N沟道JFET iDmAuDS?uGS?UGS(off)0V-1VIDSSds -2V-3V-4VuDSuGSV0N沟道JFETUGS(off)0 P沟道JFET+3V0 dgsiDmAiDuDSuDS?uGS?UGS(off)0UGS(off)uGSVP沟道JFET+2V+1V0V dgs IDSSuDS?uGS?UGS(off) 增 强 型 耗 尽 型 iDmA

iDmAuDS?uGS?UGS(th)+5V+4VuDS?uGS?UGS(th)N沟道增强型MOSFET+3V+2V+1VuDS0B dgsB 0uGSVN沟道MOS增强型UGS(th)iDmA iDmA uDS?uGS?UGS(off)?2VuDS?uGS?UGS(off)N沟道耗尽型MOSFET0VIDSS-1V-2V-3VuDS uGSV0UGS(off)0N沟道MOS耗尽型 18

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效 应 管 P 沟 道 M O S 管 增 强 型 dgsBiDmAP沟道MOS增强型-2V0UGS(th)0uDSuGSVuDS?uGS?UGS(off)-3V-4V-5V 耗 尽 型 P沟道增强型MOSFETuDS?uGS?UGS(th) iDmA P沟道MOS耗尽型+2V+1V0 dgsBuDS?uGS?UGS(off)uDS0UGS(off)uGSV0V-1VIDSS P沟道耗尽型MOSFETuDS?uGS?UGS(off)

2.10典型例题分析

[例2-1] 电路如例2-1图所示,设二极管是理想的,试判断二极管是导通还是截止?并求输出电压UAO。

解:若要判断二极管是导通还是截止,则可先假设二极管移开,计算二极管的阳极和阴极之间的电位差。若该电位差大于零,则表明二极管可能导通;若该电位差小于或等于零,则二极管截止。对于例2-1图(a)所示电路,移开二极管后的电路如图例2-1图(b)所示,两个二极管的阳极和阴极之间的电位差分别为

(a)D1D2AUD1UD2AD1D2AR12V9V0(b)R12V9V012VR9V0(c)例2-1图(a) 原理电路图(b) 移去二极管后的电路(c)二极管D1导通时的等效电路UD1?0?(?9) V?9 V?0

UD2??12?(?9)??3V?0 故二极管D1导通,D2截止。由于二极管为理想二极管,所以D1做短路处理,D2做开路处理,其等效电路如例2-1图(c)所示。则输出电压为:

UAO?0V [例2-2] 例2-2图所示电路中的二极管是硅管,①若二极管为理想二极管,则

R1U6V4.7kΩIDUDR120VU4.7kΩIDR203Ω0(a)DR203Ω0(b)UDD 例2-2图(a)原理电路图(b)二极管导通时等效电路19

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流过二极管中的电流是多少?②如果二极管正向导通压降为0.7V,则流过二极管中的电流又是多少?③若U=20V,且二极管正向导通压降为0.7V,则流过二极管中的电流又是多少? 解:由例2-2图(a)所示电路

① 若二极管为理想二极管,二极管D承受正向电压而导通,UD=0V,二极管中的电流为

ID?U6??1.28 mA R14.7?103② 如果二极管正向导通压降为0.7V,先判断二极管是导通还是截止。假设将二极管移开,则R2两端的电压为 UD?R20.3U??6?0.36 V

R1?R24.7?0.3由于硅二极管的开启电压约为0.5V,故二极管截止,ID=0。

③ 若U=20V,且二极管正向导通压降为0.7V,则假设移开二极管后R2两端的电压为

UD?R20.3U??20?1.2V

R1?R24.7?0.3由于二极管两端电压大于开启电压,故D导通,二极管用恒压源代替,其等效电路如例2-2图(b)所示,恒压源两端电压为UD=0.7V,则二极管中的电流为

ID?U?UDUD20?0.70.7????1.773mA R1R24.70.3[例2-3] 如图2-10所示电路中,UI=12V,稳压管稳定电压UZ=6V,稳定电流Iz=10mA,电阻R=100Ω,RL=150Ω 。①求Uo、IR和稳压管实际工作电流 IZ;②若稳压管最大稳定电流IZM=50mA,试问UI允许波动的范围是多少?③若VI =12V,VZ=6V,稳压管稳定电流IZ=10mA,最大稳定电流

Iz=50mA,问负载电阻RL允许变化的范围是多少?

解:① 由电路可知,Uo?UZ?6V。 IR? Io?UI?UZ12?6??60 mA R100Uo6??40 mA RL150则稳压管的实际工作电流为

IZ?IR?Io?60?40?20 mA

②若稳压管最大稳定电流IZM=50mA,而稳定电流IZ=10mA,则由电路可知 UI?IRR?UZ?(IZ?Io)R?UZ 当IZ=10mA时

UImin?(IZ?Io)R?UZ?(10?40)?10?3?100?6?11V

当IZM=50mA时

UImax?(IZM?Io)R?UZ?(50?40)?10?3?100?6?15V 故UI允许波动的范围是(11~15)V。

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