发布时间 : 星期五 文章DICE-3数字逻辑实验指导更新完毕开始阅读543145360b4c2e3f5727632a
实验二 组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运
算)
一、实验目的
l、掌握组合逻辑电路的功能测试。 2、验证半加器和全加器的逻辑功能。 3、学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及材料
器件：
74LS00 二输入端四与非门 3片 74LS86 二输入端四异或门 l片 74LS54 四组输入与或非门 l片 三、预习要求
1、预习组合逻揖电路的分析方法。
2、预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3、预习二进制数的运算。
四、实验内容
1、组合逻辑电路功能测试。
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（1）用2片74LS00组成图2.1所示逻缉电路。为便于接线和检查，
在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。
（2）图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管电平显示。 （3）按表2.1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Yl，Y2逻
辑表达式。
（4）将运算结果与实验比较。
2、测试用异或门（74LS86）和与 非门组成的半加器的逻辑功能 根据半加器的逻辑表达式可知， 半加器Y是A、B的异或，而进 位Z是A、B相与，故半加器 可用一个集成异或门和二个与 非门组成如图2.2。 （1）在学习机上用异或门和与门
接成以上电路，A、B接电平开关K，Y、Z接电平显示。
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（2）按表2.2要求改变A、B状态，填表。
3、测试全加器的逻辑功能。
（1）写出图2.3电路的逻辑表达式。 （2）根据逻辑表达式列真值表。
（3）根据真值表画逻辑函数Si、Ci的卡诺图。 （4）填写表2.3各点状态。
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（5）按原理图选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2.4，
并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。
4、测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能
全加器可以用两个半加器和两个与门、一个或门组成，在实验中，常用一块双异或门、一个与或非门和一个与非门实现。
（1）画出用异或门、与或非门和非门实现全加器的逻辑电路图，写
出逻辑表达式。
（2）找出异或门、与或非门和与门器件按自己画出的图接线。接线
时注意与或非门中不用的与门输入端接地。
（3）当输入端Ai、Bi及Ci-1为下列情况时，用万用表测量Si和Ci
的电位并将其转为逻辑状态填入下表。
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