基于单片机的智能充电器—-毕业论文设计 联系客服

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安徽工程大学毕业设计(论文)

图2-13 锂电池的充电特性

由于锂电池的最佳充电过程无法用单一量实现,在这三段应分别采用不同的控制方式。具体为:进入B—C段之前,电池电量己基本用完,此时采用恒定的小电流充电。当进入B—C段时,若采用恒流充电,电流过大会损坏电池,电流过小使充电时间过长,根据电压变化情况控制充电电流,使电池充电已满,若此时停止充电,电池会自放电。为防止自放电现象发生,采用浮充维护充电方式,用小电流进行涓流充电。

在恒流充电状态下,不断检测电池端电压,当电池电压达到饱和电压时,恒流充电状态终止,自动进入恒压充电状态;恒压充电时,保持充电电压不变。由于电池内阻不断变大,导致充电电流不断下降,当充电电流下降到恒流状态下充电电流的1/10时,终止恒压充电,进入浮充维护充电阶段。

电池在充满电后,如果不及时停止充电,电池的温度将迅速上升。温度的升高将加速板栅腐蚀速度及电解液的分解,从而缩短电池寿命、容量下降。为了保证电池充足电又不过充电,可以采用定时控制、电压控制和温度控制等多种终止充电的方法。

(1)定时控制

该方法适用于恒流充电。采用恒流充电法时,根据电池的容量和充电电流,可以很容易的确定所需的充电时间。充电的过程中,达到预定的充电时间后,定时器发出信号,使充电器迅速停止充电或者将充电电流迅速将至浮充维护充电电流,这样可以避免电池长时间大电流过充电。

这种控制方法较简单,但有其缺点:充电前,电池的容量无法准确知道,而且电池和一些元器件的发热使充电电能有一定的损失,实际的充电时间很难确定。而该方法充电时间是固定的,不能根据电池充电前的状态而自动调整,结果使有的电池可能充不足电,有的电池可能过充电,因此,只有充电速率小于0.3C时,才采用这种方法。

(2)电池电压控制

在电压控制法中,最容易检测的是电池的最高电压。常用的电压控制法有:

最高电压(VMAX):从充电特性曲线可以看出,电池电压达到最大值时,电池即充足电。充电过程中,当电池电压达到规定值后,应立即停止快速充电。这种控制方法的缺点是:电池充足电的最高电压随环境温度、充电速率而变,而且电池组中各单体电池的最高充电电压也有差别,因此采用这种方法不可能非常准确地判断电池己足充电。

电压负增量(-△V):由于电池电压的负增量与电池组的绝对电压无关,而且不受环境温度和充电速率等因素影响,因此可以比较准确地判断电池己充足电。这种控制方法的缺点是:①从多次快速充电实验中发现,电池充足电之前,也有可能出现局部电压下降的情况,使电池在未充足电时,由于检测到了负增量而停止快充;②镍镉电池充足电

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项冲:基于单片机的锂电池充电器设计

后,电池电压要经过较长时间,才出现负增量,此时过充电较严重,此时电池的温度较高,对电池有所损害。因此,这种控制方法主要适用于镍镉电池。

电压零增量(△V):锂电池充电器中,为了避免等待出现电压负增量的时间过久而损坏电池,通常采用0△V控制法。这种方法的缺点是:未充足电以前,电池电压在某一段时间内可能变化很小,若此时误认为0△V出现而停止充电,会造成误操作。为此,目前大多数锂电池快速充电器都采用高灵敏0△V检测,当电池电压略有降低时,立即停止快速充电。

(3)电池温度控制

为了避免损坏电池,电池温度上升到规定数值后,必须立即停止快速充电。常用的温度控制方法有:

最高温度(TMAX):充电过程中,通常当电池温度达到40℃时,应立即停止快速充电,否则会损害电池。电池的温度可通过与电池装在一起的热敏电阻来检测。这种方法的缺点是热敏电阻的响应时间较长,温度检测有一定滞后。

温度变化率(△T/△t):充电电池在充电的过程中温度都会发生变化,在充足电后,电池温度迅速上升,而且上升速率△T/△t基本相同,当电池温度每分钟上升1℃时,应当立即终止快速充电。应当说明,由于热敏电阻的阻值与温度关系是非线性的,因此,为了提高检测精度应设法减小热敏电阻非线性的影响。

采用温度控制法时,由于热敏电阻响应时间较长,再加上环境温度的影响,因此,不能准确的检测电池的充足电状态。

(4)综合控制法

以上各种控制方法各有其优缺点:由于存在电池个体的差异和个别的特殊电池,若只采用一种方法,则会很难保证电池较好的充电。为了保证在任何情况下均能可靠的检测电池的充足电状态,可采用具有定时控制、温度控制和电池电压控制功能的综合控制法。

鉴于定时控制、温度控制、最高电压控制等单独作为终止条件使用的局限性,有的系统中锂电池的充电终止也采用综合控制法。锂电池是以零增量检测为主,时间、温度和电压检测为辅的方式。系统在充电过程检测有无零增量(△V)出现,作为判断电池已充满的正常标准,同时判断充电时间、电池温度及端电压,是否已超过预先设定的保护值作为辅助检测手段。当电池电压超过检测门限时,系统会检测有无零增量出现,若出现△V,则认为电池正常充满,进入浮充维护状态;在充电过程中,系统会一直判断充电时间、电池温度及端电压是否己到达或超过了充电保护条件。若其中有一个条件满足,系统会终止现有充电方式,进入浮充维护状态。

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第3章 锂电池充电器硬件设计

3.1 单片机电路部分

1.AT89C51

AT89C51是一种带4K字节闪烁可编程可擦除只读存储器(FPEROM—Falsh

Programmable and Erasable Read Only Memory)的低电压,高性能CMOS8位微处理器,俗称单片机。AT89C2051是一种带2K字节闪烁可编程可擦除只读存储器的单片机。单片机的可擦除只读存储器可以反复擦除100次。该器件采用ATMEL高密度非易失存储器制造技术制造,与工业标准的MCS-51指令集和输出管脚相兼容。由于将多功能8位CPU和闪烁存储器组合在单个芯片中,ATMEL的AT89C51是一种高效微控制器,AT89C2051是它的一种精简版本。AT89C系列单片机为很多嵌入式控制系统提供了一种灵活性高且价廉的方案。

(1)主要特性:

·与MCS-51 兼容

·4K字节可编程闪烁存储器 ·寿命:1000写/擦循环 ·数据保留时间:10年 ·全静态工作:0Hz-24Hz ·三级程序存储器锁定 ·128*8位内部RAM ·32可编程I/O线

·两个16位定时器/计数器 ·5个中断源 ·可编程串行通道

·低功耗的闲置和掉电模式 ·片内振荡器和时钟电路 (2)管脚说明:

VCC:供电电压。 GND:接地。

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P0口:P0口为一个8位漏级开路双向I/O口,每脚可吸收8TTL门电流。当P1口的管脚第一次写1时,被定义为高阻输入。P0能够用于外部程序数据存储器,它可以被定义为数据/地址的第八位。在FIASH编程时,P0 口作为原码输入口,当FIASH进行校验时,P0输出原码,此时P0外部必须被拉高。

P1口:P1口是一个内部提供上拉电阻的8位双向I/O口,P1口缓冲器能接收输出4TTL门电流。P1口管脚写入1后,被内部上拉为高,可用作输入,P1口被外部下拉为低电平时,将输出电流,这是由于内部上拉的缘故。在FLASH编程和校验时,P1口作为第八位地址接收。

P2口:P2口为一个内部上拉电阻的8位双向I/O口,P2口缓冲器可接收,输出4个TTL门电流,当P2口被写“1”时,其管脚被内部上拉电阻拉高,且作为输入。并因此作为输入时,P2口的管脚被外部拉低,将输出电流。这是由于内部上拉的缘故。P2口当用于外部程序存储器或16位地址外部数据存储器进行存取时,P2口输出地址的高八位。在给出地址“1”时,它利用内部上拉优势,当对外部八位地址数据存储器进行读写时,P2口输出其特殊功能寄存器的内容。P2口在FLASH编程和校验时接收高八位地址信号和控制信号。

P3口:P3口管脚是8个带内部上拉电阻的双向I/O口,可接收输出4个TTL门电流。当P3口写入“1”后,它们被内部上拉为高电平,并用作输入。作为输入,由于外部下拉为低电平,P3口将输出电流(ILL)这是由于上拉的缘故。

P3口也可作为AT89C51的一些特殊功能口,如下表3-1所示:

表3-1 P3口

口管脚 备选功能 P3.0/RXD (串行输入口) P3.1/ TXD (串行输出口) P3.2/INT0 (外部中断0) P3.3/INT1 (外部中断1) P3.4 T0 (记时器0外部输入) P3.5 T1 (记时器1外部输入) P3.6/WR (外部数据存储器写选通) P3.7/RD (外部数据存储器读选通) P3口同时为闪烁编程和编程校验接收一些控制信号。 RST:复位输入。当振荡器复位器件时,要保持RST脚两个机器周期的高电平时间。 ALE/PROG:当访问外部存储器时,地址锁存允许的输出电平用于锁存地址的地位字节。在FLASH编程期间,此引脚用于输入编程脉冲。在平时,ALE端以不变的频率周期输出正脉冲信号,此频率为振荡器频率的1/6。因此它可用作对外部输出的脉冲或用于定时目的。然而要注意的是:每当用作外部数据存储器时,将跳过一个ALE脉冲。如想禁止ALE的输出可在SFR8EH地址上置0。此时, ALE只有在执行MOVX,MOVC指令是ALE才起作用。另外,该引脚被略微拉高。如果微处理器在外部执行状态ALE禁止,置位无效。

PSEN:外部程序存储器的选通信号。在由外部程序存储器取指期间,每个机器周期两次PSEN有效。但在访问外部数据存储器时,这两次有效的PSEN信号将不出现。

EA/VPP:当EA保持低电平时,则在此期间外部程序存储器(0000H-FFFFH),不管是否有内部程序存储器。注意加密方式1时,EA将内部锁定为RESET;当EA端保

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