材料物理性能课后习题答案 - 北航出版社 - 田莳主编 联系客服

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页眉 第二章 材料的电性能

1. 铂线300K时电阻率为1×10-7Ω·m,假设铂线成分为理想纯。试求1000K时的电阻率。

(P38)

解: ?T??0(1??T)?21+?T21+?T25???2??1g?1?10?7??2.27?10?7?gm?11+?T11+?T12.22.

镍铬丝电阻率(300K)为1×10-6Ω·m,加热到4000K时电阻率增加5%,假定在此温度区间内马西森定则成立。试计算由于晶格缺陷和杂质引起的电阻率。(P38)

为什么金属的电阻温度系数为正的? (P37-38) 答:当电子波通过一个理想晶体点阵时(0K),它将不受散射;只有在晶体点阵完整性遭到破坏的地方,电子波才受到散射(不相干散射),这就是金属产生电阻的根本原因,因此随着温度升高,电阻增大,所以金属的电阻温度系数为正。 试说明接触电阻产生的原因和减小这个电阻的措施。(P86)

接触电阻产生的原因有两个:一是因为接触面不平,真正接触面比看到的要小,电流通过小的截面必然产生电阻,称为会聚电阻。二是无论金属表面怎样干净,总是有异物形成的膜,可能是周围气体、水分的吸附层。因此,一般情况下,接触金属时首先接触到的是异物薄膜,这种由于膜的存在而引起的电阻称为过渡电阻。

镍铬薄膜电阻沉积在玻璃基片上其形状为矩形1mm×5mm,镍铬薄膜电阻率为1×10-6Ω·m,两电极间的电阻为1KΩ,计算表面电阻和估计膜厚。

表2.1中哪些化合物具有混合导电方式?为什么? (P35)

3.

4.

5.

6.

ZrO2?CeO2、FeO?Fe2O3?CaO?SiO2?Al2O3

7. 说明一下温度对过渡族金属氧化物混合导电的影响。

8. 表征超导体的三个主要指标是什么?目前氧化物超导体的主要弱点是什么?

(P76)临界转变温度、临界磁场强度、临界电流密度。 主要弱点是临界电流密度低。

9. 已知镍合金中加入一定含量钼,可以使合金由统计均匀状态转变为不均匀固溶体(K状

态)。试问,从合金相对电阻变化同形变量关系曲线图(见图2.70)中能否确定镍铁钼合金由均匀状态转变为K状态的钼含量极限,为什么?

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页眉 10. 试评述下列建议,因为银具有良好的导电性能而且能够在铝中固溶一定的数量,为何不

用银使其固溶强化,以供高压输电线使用?

(a)这个意见是否基本正确(b)能否提供另一种达到上述目的的方法;(c)阐述你所提供方案的优越性。

答:不对。在铝中固溶银,会进一步提高材料的电阻率,降低导电性能。

11. 试说明用电阻法研究金属的晶体缺陷(冷加工或高温淬火)时为什么电阻测量要在低温

下进行?

答:根据马西森定则,晶体缺陷所带来的电阻和温度升高带来的电阻是相互独立的,在低温下测量电阻,则温度带来的电阻变化很小,所测量的电阻能够反映晶体缺陷的情况。 12.

实验测出离子型电导体的电导率与温度的相关数据,经数学回归分析得出关系为1T(1)试求在测量温度范围内的电导激活能表达式;lg??A?B-1(2)若给出T1=500K时,?1=10-9(?gm),-1 T2?1000K时,?2=10-6(?gm)计算电导激活能的值。(P52)

解:(1)??10(A?B/T)ln??(A?B/T)ln10 ??e(A?B/T)ln10?eln10Ae(ln10.B/T)?A1e(?W/kT)W??ln10.B.k式中k=0.84?10?4(eV/K) lg10-9?A?B/500??(2)??B??3000-6 lg10?A?B/1000 ??W?0.594eV

13.

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页眉 本征半导体中,从价带激发至导带的电子和价带产生的空穴共同电导,激发的电子数n可以近似表示为:n?Nexp(?Eg/2kT)式中:N为状态密度,k为波尔兹曼常数,T为热力学温度(K),试回答(1)设N=1023cm-3,k=8.6?10-5eV?k?1时,Si(Eg?1.1eV),TiO2(Eg?3.0eV)在20?C和500℃所激发的电子数(cm-3)各是多少?-1(2)半导体的电导率?(??cm)可表示为??ne?式中:n为载流子浓度(cm-3),e为载流子电荷(电子电荷16.?10-19C)?为迁移率(cm-1V-1s-1),当电子(e)和空穴(h)同时为载流子时,??nee?e?nhe?h假设Si的迁移率?e?1450(cm-1V-1s-1),?h?500(cm-1V-1s-1),且不随温度变化。试求Si在20℃和500℃时的电导率。解:(1)Si:20℃:n?1023exp(?1.1/(2?8.6?10?5?298) =1023?e?21.83?3.32?1013cm?3500℃:n?1023exp(?1.1/(2?8.6?10?5?773) =1023?e?8?2.25?1019cm?3TiO2:20℃:n?1023exp(?3.0/(2?8.6?10?5?298) =1.4?1013cm?3500℃:n?1023exp(?1.1/(2?8.6?10?5?773) =1.6?1013cm?3

(2)20℃:??nee?e?nhe?h?3.32?1013?1.6?10-19?(1450?500)2-1?1.03?10?(?gcm)500℃:??nee?e?nhe?h?2.55?1019?1.6?10-19?(1450?500)-1?7956(?gcm)

14. 根据费米-狄拉克分布函数,半导体中电子占据某一能级E的允许状态几率为f(E)为

f(E)=[1+exp(E-EF)/kT]-1

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