发布时间 : 星期三 文章ARL直读光谱问答100例 - 图文更新完毕开始阅读ce98043a227916888486d760
存在硬件损坏的情况。
四十七、问：ARL直读光谱仪分析的误差的性质及其产生的原因有哪些？ 答：
1、系统误差也叫可测误差，它是由于分析过程中某些经常发生的比较固定的原因所造成的，它是可以通过测量而确定的误差。通常系统误差偏向一方，或偏高，或偏低。例如光谱标样，经过足够多次测量，发现分析结果平均值与该标样证书上的含量值始终有一差距，这就产生一个固定误差即系统误差，系统误差可以看作是对测定值的校正值，它决定了测定结果的准确度。
2、偶然误差是一种无规律性的误差，又称不可测误差，或随机误差，它是由于某些偶然的因素(如测定环境的温度、湿度、振动、灰尘、油污、噪音、仪器性能等的微小的随机波动)所引起的，其性质是有时大，有时小，有时正，有时负，难以察觉，难以控制。它决定了测定结果的精密度。
3、过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，没有一定的规律可循，只能作为过失。不管造成过失误差的具体原因如何，只要确知存在过失误差，就将这一组测定值数据以异常值舍弃。 4、 在直读光谱分析过程中，从开始取样到最后出分析数据，是由若干个操作环节组成的，每一环节都产生一定的误差。当无过失误差时，光谱分析的总误差主要是系统误差和偶然误差的总和，便决定了光电直读光谱分析方法的正确度。分析正确度包含二方面内容:正
确性和再现性。正确性表示分析结果与真实含量的接近程度，系统误差小，正确性高。再现性(精密度)表示多次分析结果的离散程差和偶然误差或系统误差和偶然误差都很小时，精密度就等于正确度。 四十八、问：ARL3460负高压为什么总是降低，是不是电子柜温度过高？
答：(1) 负高压发生器可能有问题，也许是负高压模块坏了，不一定
是温度引起的。
(2) 负高压发生器供电+24V电源有问题。 (3) 机柜内是否存在漏电导致负高压降低。
(4) 光电倍增管（PMT）管座是否存在漏点或松动。 四十九、问：ARL3460光谱仪通道表中ＢＧ是什么意思？ 答：
ＢＧ（background）表示光谱仪的背景通道（或背景强度通道）。 仪器的暗电流、灯曝光及疲劳灯等都是通过背景通道测量的。 五十、问：一台ARL3460最近经常死机, 开始关一下机再启动就行了, 后来无论如何重启一到输入密码后到加载时就停止了, 不知啥原因?
答：(1). 软件故障读不了信息条，可以按复位键，或将电子柜关闭，在打开。
(2) 如果是电脑故障，重装系统，在装软件。 (3)整理电脑操作系统后，载OE,然后重装，就可以了
五十一、问：我公司是ARL4460光谱仪，在分析钢中的Ca时偏析
很大，主要原因是什么？
答：Ca元素非常活泼，所以测定的时候稳定性相对来说数据差别比较大!
五十二、问：我们用的是ARL3460，做的是铝分析和生铁分析，有一台机器在换激发台后得好几天才能稳定下来，而且反反复复。工作时每做几个样就得用控样校正曲线，测量结果往往铁含量偏低。 答：
(1) 你可以检查一下P和S的情况，如果P、S稳定，则可能是Fe通道光电倍增管或积分电容有问题，如果P、S也不稳定，你可以进行恒光测试和暗电流测试，如果结果稳定，问题可能出在光源，当然也可能是激发室到入射透镜间的光路有问题，比如检查以下曝光快门是否灵活等。
(2) 更换激发台一般不会引起不稳定现象，除非激发台内粉尘太多。我想你肯定清理过了。
(3) 看你的情况，不稳定可能来自于光源。检查一下基体元素强度，在标准化时可以看见，应在100左右。
(4) 另外检查描迹是否正确，还有激发点是否够黑。 五十三、问：ARL3460的24V电源的电流怎么测? 答：
先关闭光谱仪后面的高压控制按钮，打开光谱仪左下方的防护罩，小心将高压板组拖出，打开高压控制按钮，找到24V电压控制板测量。 五十四、问：在ARL3460光谱仪中有对透镜进行加热的系统，我有
点不明白为什么非要让透镜处在那么高的温度环境中呢，常温不是就很好嘛？ 答：
透镜不加热就会受潮，受潮可能会产生雾气，长期下去透镜会发霉，这样会使仪器在激发时光通道的强度会减弱，对分析结果产生不利的影响。
五十五、问：请问ARL4460光电直读光谱仪过滤氩气的是什么油? 答：
用真空泵润滑油，但必须保证油的量，它对过滤效果、保持火花室的氩气正确的压力很重要，量少了必须及时添加。
五十六、 问：我遇到了一个问题，我买的ARL光谱仪分析的时候，分析标样的S(含量为0.1%)就准确，可是分析白口化以后的球铁样品，含量就偏高：最高为0.12%的球铁样子分析结果是0.2%左右，谁知道是曲线的问题，还是我们取样有问题,样子分析时精度很好，所以我认为白口化程度应该很好。这和你们说的加不加Sb(锑)元素有关系吗？另外，白口化不是淬冷就可以了吗，难道直接加锑元素不用淬冷就行了吗？ 答：
一、 我认为主要是检量线问题----你分析的样品和你的标样应该不完全是一种基体(可能是中间一些杂质元素差别很大),你绘制检量线全部都是使用的标样,如果分析样品杂质元素干扰了硫的测点,而标样中不含此杂质应该会产生你所说的现象分析标样数据很好分析试样差