发布时间 : 星期五 文章122矿产资源储量报告及评审中的若干问题更新完毕开始阅读e6f23be79b89680203d8256e
YM (332) Zk1 ZK2 图a:按“控制的”工程间距施工ZK1、ZK2孔未见矿时，矿体圈连示
意图。
(332) Zk1 ZK2 图b：按“控制的”工程间距施工的ZK1、ZK2孔未见矿时，矿体圈连
示意图
第二种情况是当“控制的”工程间距钻孔（zk1、zk2）未见矿时，工程间不能圈连332资源量，只能按“控制的”工程间距（332）的四分之一值自最低一层控矿坑道沿矿体倾向下推圈连332资源量（如b图）。第三种情况是当坑道下有“推断的”（333）工程间距钻孔见矿时，自坑道向下按“控制的”(332)工程间距四分之一值平推圈连（332）资源量，余下部分为（333）资源量（如图C）。
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YM (332) (333) Zk3 Zk4 图C：按“推断的”工程间距施工（ZK3、ZK4）孔，见矿时矿体圈连
示意图
YM (333) Zk3 Zk4 图D：按“推断的”工程间距施工的（ZK3、ZK4）孔，未见矿时矿体
圈连示意图
第四种情况是：当333工程间距钻孔（zk3、zk4）未见矿时，自坑道向下按“推断的”（333）工程间距的四分之一值平推圈连333资源量（见图D）。另外，在矿体走向上，在沿脉坑道边缘穿脉巷道外有“控制的”（332）钻孔见矿时，工程间圈连（332）资源量（见图E）。
YM3 CM1 （332） Zk5
YM4
图E：在矿脉走向上,按“控制的”工程间距施工（ZK5）孔，见矿时，矿体圈连
示意图
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除上述,对盲矿体头部最高一层控矿坑道出现上述情况时，可按同一方法处理。
上述最低一层坑道及最高一层控矿坑道矿体下推、上推点均是沿矿倾斜方向外推距离，非地质块段法投影面上的外推距离。
十、特高品位的确定与处理
为了降低资源储量误差，减少矿山生产风险，对出现的特高品位样应预处理。依国储?1991?164号文暂行规定，当出现特高品位样品时，首先应对副样作第二次（内检）重复分析；当二次分析结果在允许误差范围内，用第一次分析结果。原全国储委依据实践结果，结合矿床地质特征的复杂程度，结合探采对比时对特高品位的处理经验，提出当样品分析结果高出矿体平均品位的6-8倍时，确定为特高品位。当矿体品位变化系数较大时，采用上限值，反之取下限值。
对特高品位处理时，其影响范围不宜过大，应依特高品位所影响的块段及控矿工程（当矿体厚度较大时）范围内较适当。具体处理时，应以特高品位影响的块段或单工程，进行包括特高品位在内的块段或单工程的平均品位计算，以此平均品位代替原特高品位值。再续求块段或单工程的平均品位，作为资源储量估算时的品位参数依据。但对相邻剖面或几条剖面有工程控制的富矿条，且对应程度较高，这是不能按特高品位对待与处理，应予单独圈连和计算。
十一、矿体圈定中的“穿靴戴帽”问题
所谓“穿鞋戴帽”是指使用矿床工业指标在控矿工程中圈连矿体
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时，对矿体中部品位较高而将矿体上下边部的低品位矿（单样来衡量）带入工业矿体（大于最低工业品位）的现象。这种现象在实际工作中较泛见。在圈定工业矿体时，若单工程中矿体上下边部遇到连续有多个大于边界品位而低于最低工业品位的样品时，一般只允许带入相当于“夹石厚度”以内的低品位样品圈入工业矿体中，其余的低品位样品可单独圈连；不得将连续超过“夹石厚度”的低品位矿带入和圈入工业矿体中。在圈连矿体时，对于厚度大且又连片的低品位样品应单独圈连低品位矿并单独计算其资源量。
十二、工程控制程度与地质可靠程度的关系
工程控制程度与地质可靠程度的关系是因果关系。有不同工程控制程度（同时，要考虑地质研究程度、开采技术条件查明程度、可选冶性能研究程度等因素）可相应确定探明的、控制的、推断的和预测的四种地质可靠程度资源量类别。
“探明的”资源量类别，必须在“控制的”工程间距基础上经加密采样工程所圈定；控制的资源储量类别则必须有相应间距的系统采样工程所圈定；推断的资源储量则是根据矿体特征，用有限的工程适当控制，无网度概念。对沉积矿床中厚度、品位较稳定的分布面积较大的层状矿体可采用2～3倍“控制的”工程间距揭穿矿层；普查阶段探矿工程应具备相对的均匀性，并注意与后续详查阶段工作的衔接。
由上可知，探明的资源储量类别是在控制的工程间距基础上经加
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