发布时间 : 星期五 文章分享下无损检测超声波检测二级试题库4(UT)（含答案） - 图文更新完毕开始阅读f76ec61bc5da50e2524d7f3b
C、与工作频率相同 D、以上都不对
3.15 调节仪器面板上的“抑制”旋钮会影响探伤仪的（ ） A、垂直线性 B、动态范围 C、灵敏度 D、以上全部
3.16 放大器的不饱和信号高度与缺陷面积成比例的范围叫做放放大器的（ ） A、灵敏度范围 B、线性范围 C、分辨力范围 D、选择性范围
3.17 单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（ ） A、近场干扰 B、材质衰减 C、盲区 D、折射 3.18 同步电路的同步脉冲控制是指：（ ） A、发射电路在单位时间内重复发射脉冲次数 B、扫描电站每秒钟内重复扫描次数
C、探头晶片在单位时间内向工件重复幅射超声波次数 D、以上全部都是
3.19 表示探伤仪与探头组合性能的指标有：（ ） A、水平线性、垂直线性、衰减器精度 B、灵敏度余量、盲区、远场分辨力 C、动态范阻。—题堂皇！奠搽测瀑度 D、垂直极限、水平极限、重复频率
3.20 使仪器得到满幅显示时Y轴偏转板工作电压为80V，现晶片接收到的缺陷信号电压为40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度显示，仪器放大器应有多大增益量？（ ） A、74dB B、66dB C、60dB D、80dB
3.21 脉冲反射式超声波探伤仅同步脉冲的重复频率决定着：（ ） A、扫描长度 B、扫描速度
C、单位时间内重复扫描次数 D、锯齿波电压幅度 3.22 压电晶片的基频是：（ ）
A、晶片厚度的函数 B、施加的脉冲宽度的函数 C、放大器放大特性的函数 D、以上都不对 3.23 探头的分辨力：（ ）
A、与探头晶片直径成正比 B、与频率宽度成正比 C、与脉冲重复频率成正比 D、以上都不对 3.24 当激励探头的脉冲幅度增大时：（ ）
A、仪器分辨力提高 B、仪器分辨力降低，但超声强度增大 C、声波穿透力降低 D对试验无影响 3.25 探头晶片背面加上阻尼块会导致：（ ）
A、Qm值降低．灵敏度提高 B、Qm值增大，分辨力提高 C、Qm值增大，盲区增大 D、Qm值降低，分辨力提高 3.26 为了从换能器获得最高灵敏度：（ ） A、应减小阻尼块 B、应使用大直径晶片
C、应使压电晶片在它的共振基频上激励 D、换能器频带宽度应尽可能大 3.27 超声试验系统的灵敏度：（ ） A、取决于探头高频脉冲发生器和放大器 B、取决于同步脉冲发生器 C、取决于换能器机械阻尼 D、随分辨力提高而提高
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3.28 换能器尺寸不变而频率提高时：（ ） A、横向分辨力降低 B、声束扩散角增大 C、近场长度增大 D、指向性变钝
3.29 一般探伤时不使用深度补偿是因为它会：（ ） A、影响缺陷的精确定位
B、影响AVG曲线或当量定量法的使用 C、导致小缺陷漏捡 D、以上都不对
3.30 晶片共振波长是晶片厚度的（ ）
A、2倍 B、1/2倍 C、l倍 D、4倍
3.31 已知PZT-4的频率常数是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度约为：（ ） A、0.8mm B、l.25mm C、1.6mm D、0.4mm 3.32 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时，应使用：（ ） A、硬保护膜直探头 B、软保护膜直探头 C、大尺寸直探头 D、高频直探头
3.33 目前工业超声波探伤使用较多的压电材料是：（ ） A、石英 B钛酸钡 C、锆钛酸铅 D硫酸锂 3.34 联合双直探头的最主要用途是：（ ） A、探测近表面缺陷 B、精确测定缺陷长度 C、精确测定缺陷高度 D、用于表面缺陷探伤
3.35 超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料：（ ）
A、导电材料 B磁致伸缩材料 C、压电材料 D磁性材料 3.36 下面哪种材料最适宜做高温探头：（ ） A、石英 B、硫酸锂 C、锗钛酸铅 D、铌酸锂
3.37 下面哪种压电材料最适宜制作高分辨率探头：（ ） A、石英 B锆钛酸铅 C、偏铌酸铅 D、钛酸钡 3.38 下列压电晶体中哪一种作高频探头较为适宜（ ） A、钛酸钡(CL=5470m/s) B、铌酸锂（CL=7400m/s） C、PZT（CL=4400m/s） D、钛酸铅(CL=4200m/S) 3.39 表示压电晶体发射性能的参数是（ ） A、压电电压常数g33 B、机电耦合系数K C、压电应变常数d33 D、以上全部
3.40 以下关于爬波探头的叙述，哪一条是错误的（ ） A、爬波探头的外形和结构与横渡斜探头类似
B、当纵波入射角大于或等于第二临界角时，在第二介质中产生爬波 C、爬波用于探测表层缺陷
D、爬波探测的深度范围与频率f和晶片直径D有关。 3.41 窄脉冲探头和普通探头相比（ ）
A、Q值较小 B、灵敏度较低 C、频带较宽 D、以上全部
3.42 采用声透镜方式制作聚焦探头时，设透镜材料为介质1，欲使声束在介质2中聚焦，选用平凹透镜的条件是（ ）
A、Zl>Z2 B、C1 更多的下载内容尽在 中国检测网 http://www.chinatesting.com.cn 3.43 探头软保护膜和硬保护膜相比，突出优点是（ ） A、透声性能好 B、材质衰减小 C、有利消除耦合差异 D、以上全部 3.44 以下哪一条，不属于数字化智能超声波探伤仪的优点（ ） A、检测精度高，定位定量准确 B、频带宽，脉冲窄 C、可记录存贮信号 D、仪器有计算和自检功能 3.45 以下哪一条，不属于双晶探头的优点（ ） A、探测范围大 B、盲区小 C、工件中近场长度小 D、杂波少 3.46以下哪一条，不属于双品探头的性能指标（ ） A、工作频率 B、晶片尺寸 C、探测深度 D、近场长度 3.47 斜探头前沿长度和K值测定的儿种方法中，哪种方法精度最高：（ ） A、半圆试块和横孔法 B、双孔法 C、直角边法 D、不一定，须视具体情况而定 3.48 超声探伤系统区别相邻两缺陷的能力称为（ ） A、检测灵敏度 B、时基线性 C、垂直线性 D、分辨力 3.49 用以标定或测试超声探伤系统的，含有模拟缺陷的人工反射体的金属块叫（ ） A、晶体准直器 B、测角器 C、参考试块 D、工件 3.50 对超声探伤试块材质的基本要求是：（ ） A、其声速与被探工件声速基本一致 B、材料中没有超过Φ2mm平底孔当量的缺陷 C、材料衰减不太大且均匀 D、以上都是 3.51 CSK-IIA试块上的Φl×6横孔，在超声远场．其反射波高随声程的变化规律与 （ ）相同。 A、k值孔 B、平底孔 C、球孔 D、以上B和C 4.1 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度？（ ） A、直探头探伤法 B、脉冲反射法 C、斜探头探伤法 D、穿透法 4.2 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（ ） A、较低频探头 B、较粘的耦合剂 C、软保护膜探头 D、以上都对 4.3 超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（ ） A、曲面探伤时可减少耦合损失 B、可减少材质衰减损失 C、辐射声能大且能量集中 D、以上全部 4.4 探伤时采用较高的探测频率，可有利于（ ） A、发现较小的缺陷 B、区分开相邻的缺陷 C、改善声束指向性 D、以上全部 4.5 工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的（ ） A、平面效果最好 B、凹曲面居中 C、凸曲面效果最差 D、以上全部 4.6 缺陷反射声能的大小，取决于（ ） A、缺陷的尺寸 B、缺陷的类型 C、缺陷的形状和取向 D、以上全部 更多的下载内容尽在 中国检测网 http://www.chinatesting.com.cn 4.7 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是： （ ） A、反射波高随粗糙度的增大而增加 B、无影响 C、反射波高随粗糙度的增大而下降 D、以上A和C都可能 4.8 如果声波在耦合介质中波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为（ ） A、λ/4的奇数倍 B、λ/2整数倍 C、小于λ/4且很薄 D、以上B和C 4.9 表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（ ） A、缺陷深度 B、缺陷至探头前沿距离 C、缺陷声程 D、以上都可以 4.10 探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1：1调扫描，下面哪种说法正确？（ ） A、缺陷实际径向深度总是小于显示值 B、显示的水平距离总是大于实际弧长 C、显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小 D、以上都正确 4.11 采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，下面哪种说法正确（ ）? A、F/B相同，缺陷当量相同 B该法不能给出缺陷的当量尺寸 C、适于对尺寸较小的缺陷定量 D、适于对密集性缺陷的定量 4.12 在频率一定和材料相同情况下，横渡对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：（ ） A、横波质点振动方向对缺陷反射有利 B、横渡探伤杂波少 C、横波波长短 D、横波指向性好 4.13 采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：（ ） A、1.25MHz B、2.5MHz C、5MHz D、l0MHz 4.14在用5MHzΦlO晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有：（ ） A、10.7mm B、1.4mm C、16.3mm D、以上都不对 4.15 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（ ） A、小于实际尺寸 B、接近声束宽度 C、稍大于实际尺寸 D、等于晶片尺寸 4.16 棱边再生波主要被用于测定：（ ） A、缺陷的长度 B、缺陷的性质 C、缺陷的位置 D、缺陷的高度 4.17 从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行：（ ） A、精确对缺陷定位 B、精确测定缺陷形状 C、测定缺陷的动态波形 D、以上方法须同时使用 4.18 单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（ ） A、来自工件表面的杂波 B、来自探头的噪声 C、工件上近表面缺陷的回波 D、耦合剂噪声 4.19 确定脉冲在时基线上的位置应根据：（ ） 更多的下载内容尽在 中国检测网 http://www.chinatesting.com.cn